原理簡介：

F探頭磁性法測量導(dǎo)磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金鋼、硬磁性鋼等，但不包括奧氏體鋼和軟磁性鋼等)上非磁性涂鍍層(如油漆、陶瓷、橡膠、鋁、鉻、銅、錫等)的厚度。

N探頭渦流法測量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫、奧氏體非磁性不銹鋼等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如：橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。 

磁性法基本工作原理  

磁性法：當(dāng)測頭接觸鐵磁基體(或其他磁性金屬)時形成一閉合磁路，由于涂鍍層的存在，穿過線圈的磁通量與涂鍍層厚度的變化會導(dǎo)致磁路磁阻發(fā)生變化，通過測量其變化便可通過計算導(dǎo)出涂鍍層的厚度。

渦流法基本工作原理

渦流法：當(dāng)測頭靠近金屬基體時，由于高頻交變電流在線圈中產(chǎn) 生了電磁場，金屬基體會形成電渦流并對線圈產(chǎn)生反饋，隨后通過測量反饋量的大小可推導(dǎo)出相對應(yīng)的厚度值。

涂鍍層測厚儀 PCE-CT 110

PCE-CT 110涂鍍層測儀是通過技術(shù)性，它能、無損傷 地進行涂 鍍層厚度的測 。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場 通過使用不同的測頭，還可滿足多種測 的需要 PCE CT 110能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè) 金屬加工業(yè)、化工業(yè) 商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護的儀器解決了困擾大家許久的溫度漂移問題，當(dāng)被測物與環(huán)境溫度偏差較大時，實測值與真實值差異大的難題.

PCE-CT 110涂鍍層測 儀是通過**技術(shù)提升測 精準(zhǔn)性，它能快速、無損傷 精密地進行涂 鍍層厚度的測 。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場 通過使用不同的測頭，還可滿足多種測 的需要 PCE CT 110能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè) 金屬加工業(yè)、化工業(yè) 商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護專業(yè)必備的儀器。

解決了困擾大家許久的溫度漂移問題，當(dāng)被測物與環(huán)境溫度偏差較大時，實測值與真實值差異大的難題

探頭具有優(yōu)良的的測值重復(fù)性。

超低功耗 正常工作電流小于3mA，可連續(xù)工作500小時以上;

突破性解決了溫度變化對測 結(jié)果的影響(解決了溫漂問題)快速測量: 速度快 即使在統(tǒng)計狀態(tài)也可快速測 并適時統(tǒng)計，毫無延時，

采用了磁性和渦流兩種測厚萬法，既可測 磁性金屬基體上非磁性 蓋層的厚度

又可測 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電 蓋層的厚度，

可選自己 種測頭(F400 F500 F1 F1 F10 F3 N400 N1 N3) 具有兩種測 方式 連續(xù)測 方式 (CONTINUE 和單次測 方式 (5INGLE

真高兩種工作方式 直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)

設(shè)有五個統(tǒng)計 .平均值 (MEAN 、*大值 (MAX *小值 (MIN測試次數(shù) (NO )、 標(biāo)準(zhǔn)偏差 (5. DEV) 

可采用兩種方法對儀器進行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正

基本校;佳指示功能 友好的基本校準(zhǔn)界面，自動提示當(dāng)前校;佳的點號

具青存貯功能 可存貯768個測 值

具有數(shù)據(jù)瀏覽功能 可瀏覽所有測 數(shù)據(jù)、統(tǒng)計數(shù)據(jù);

探頭規(guī)格參數(shù)

測頭型號		F400/F500		F1		F1/90°	F3		F10
工作原理		磁    感    應(yīng)
測量范圍(um)		0～400/500		0～1250				0～3000	0～10000
低限分辨力(um)		0.1		0.1				1	10
示值 誤差	一點校準(zhǔn)(um)	±(3%H+1)						±(3%H+5)	±(3%H+10)
	二點校準(zhǔn)(um)	±((1～3)%H+0.7)		±((1～3)%H+1)				±((1～3)%H+5)	±((1～3)%H+10)
測 試 條 件	小曲率半徑(mm)	凸	1	1.5	平直			5	10
	小面積的直徑(mm)	F3		F7	F7			F20	F40
	基體臨界厚度(mm)	0.2		0.5	0.5			1	2

 

測頭型號		N400			N1	N1/90	N3		N10（定制）
工作原理		渦    流
( 銅上鍍鉻  0～40um) 測量范圍(um)		0～400		0～1250				0～3000	0～10000
低限分辨力(um)		0.1		0.1				1	10
示 值 誤差	一點校準(zhǔn)(um)	±(3%H+0.7)		±(3%H+1.5)				±(3%H+1)	±(3%H+25)
	二點校準(zhǔn)(um)	±[(1～3%H+0.7)		±[(1～3)%H+1.5]				___	±((1～3)%H+25)
測 試 條 件	小曲率半徑(mm)	凸	1.5	3		平直		僅為平直	25
	小面積的直徑(mm)	F4		F5		F5		F7	F50
	基體臨界厚度(mm)	0.3		0.3		0.3		無限制	5mm鋁箔

                    

注：H——標(biāo)稱值

 

附表2                    測頭選用參考表  

覆蓋層  基體		有機材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、 塑料和陽極化處理等)
		覆蓋層厚度不超過100um	覆蓋層厚度超過100um
如鐵、鋼等磁性金屬	（平面測量時）被測面積的直徑大于30mm	F400型測頭  0～400um F1型測頭    0～1250um	F1型測頭    0～1250um F5型測頭    0～5mm F10型測頭   0～10mm
	被測面積的直徑 小于30mm	F400型測頭  0～400um	F1型測頭    0～1250um F400型測頭  0～400um
如銅  、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬	被測面積的直徑 大于10mm	N400型測頭  0～400um	N400型測頭  0～400um N10型測頭   0～10mm
	被測面積的直徑 小于10mm	N400型測頭  0～400um	N1型測頭    0～1250um N400型測頭  0～400um

 測頭選用參考表(續(xù)表)

覆蓋層         基體		非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
		覆蓋層厚度不超過100um	覆蓋層厚度超過100um
如 鐵、鋼等磁性金屬	（平面測量時）被測面積的直徑大于30mm	F400型測頭  0～400um	F400型測頭  0～400um F1型測頭    0～1250um    F5型測頭    0～5mm F10型測頭   0～10mm
	被測面積的直徑 小于30mm	F400型測頭  0～400um F1型測頭    0～1250um	F400型測頭  0～400μm F1型測頭    0～1250um
如銅 、鋁 、黃銅 、鋅 、 錫 等 有色金屬	被測面積的直徑 大于10mm	僅用于銅上鍍鉻 N400型測頭  0～40um	--------
		--------	--------

 標(biāo)準(zhǔn)配置：主機1、探頭1、電池3、基體1、標(biāo)準(zhǔn)片5、原產(chǎn)地證書1、手提箱。

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